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      新聞資訊

      聚焦科技之美

      立足光電行業,以光學、機械、電子三大核心技術的組合為基礎

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      納米技術標準化

      一、通用標準
      GB/T 17507-2008 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣通用技術條件
      GB/T 18735-2014微束分析分析電鏡(AEM/EDS)納米薄標樣通用規范
      GB/T 18873-2008生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
      GB/T 19619-2004 納米材料術語
      GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
      GB/T 22458-2008儀器化納米壓入試驗方法通則
      GB/T 22925-2009納米技術處理服裝
      GB/T 28044-2011納米材料生物效應的透射電子顯微鏡檢測方法通則
      GB/T 28873-2012納米顆粒生物形貌效應的環境掃描電子顯微鏡檢測方法通則
      GB/T 30544.1-2014納米科技術語第1部分:核心術語
      GB/T 30544.5-2014納米科技術語第5部分:納米/生物界面
      GB/T 31228-2014儀器化納米壓入試驗術語
      二、產品標準
      GB/T 19345-2003 非晶納米晶軟磁合金帶材
      GB/T 19588-2004 納米鎳粉
      GB/T 19589-2004 納米氧化鋅
      GB/T 19590-2004 超微細碳酸鈣
      GB/T 19591-2004 納米二氧化鈦
      GB/T 21511.1-2008納米磷灰石/聚酰胺復合材料第1部分: 命名
      GB/T 21511.2-2008納米磷灰石/聚酰胺復合材料第2部分:技術要求
      GB/T 24491-2009 多壁碳納米管
      GB/T 26824-2011納米氧化鋁
      GB/T 30448-2013納米鐵粉
      GB/T 30449-2013納米二氧化錫
      GB/T 30450-2013納米硫化鎘
      三、檢測方法標準
      GB/T 6524-2003 金屬粉末粒度分布的測量重力沉降光透法
      GB/T 10722-2003 炭黑總表面積和外表面積的測定氮吸附法
      GB 11847-2008二氧化鈾粉末比表面積測定BET容量法
      GB/T 12334-2001 金屬和其他非有機覆蓋層關于厚度測量的定義和一般規則
      GB/T 13221-2004 納米粉末粒度分布的測定 X射線小角散射法
      GB/T 13390-2008金屬粉末比表面積的測定氮吸附法
      GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法
      GB/T 19077.1-2003 粒度分析激光衍射法
      GB/T 19346-2003 非晶納米晶軟磁合金交流磁性能測試方法
      GB/T 19587-2004 氣體吸附BET法測定固態物質比表面積
      GB/T 19627-2005 粒度分析光子相關光譜法
      GB/T 19921-2005 硅拋光片表面顆粒測試方法
      GB/T 19922-2005 硅片局部平整度非接觸式標準測試方法
      GB/T 20099-2006 樣品制備粉末在液體中的分散方法
      GB/T 20170.1-2006 稀土金屬及其化合物物理性能測試方法稀土化合物粒度分布的測定
      GB/T 20170.2-2006 稀土金屬及其化合物物理性能測試方法稀土化合物比表面積的測定
      GB/T 21510-2008納米無機材料抗菌性能檢測方法
      GB/T 22462-2008鋼表面納米、亞微米尺度薄膜元素深度分布的定量測定輝光放電原子發射光譜法
      GB/T 23413-2009納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定X射線衍射線寬化法
      GB/T 24369.1-2009 金納米棒表征第1部分:紫外/可見/近紅外吸收光譜方法
      GB/T 24370-2009 硒化鎘量子點納米晶體表征紫外一可見吸收光譜方法
      GB/T 24490-2009 多壁碳納米管純度的測量方法
      GB/T 25898-2010儀器化納米壓入試驗方法?薄膜的壓入硬度和彈性模量
      GB/T 26489-2011納米材料超雙親性能檢測方法
      GB/T 26490-2011納米材料超雙疏性能檢測方法
      GB/T 26826-2011碳納米管直徑的測量方法
      GB/T 27760-2011利用Si(111)晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法
      GB/T 27765-2011SiO2、TiO2、Fe3O4及Al2O3納米顆粒生物效應的透射電子顯微鏡檢測方法
      GB/T 28872-2012活細胞樣品納米結構的磁驅動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
      GB/T 28973-2012番茄環斑病毒檢疫鑒定方法納米顆粒增敏膠體金免疫層析法
      GB/T 28974-2012馬鈴薯A病毒檢疫鑒定方法納米顆粒增敏膠體金免疫層析法
      GB/T 28975-2012萵苣花葉病毒檢疫鑒定方法納米顆粒增敏膠體金免疫層析法
      GB/T 29189-2012碳納米管氧化溫度及灰分的熱重分析法
      GB/T 29856-2013半導體性單壁碳納米管的近紅外光致發光光譜表征方法
      GB/T 30447-2013納米薄膜接觸角測量方法
      GB/T 30452-2013光催化納米材料光解指數測試方法
      GB/Z 21738-2008 一維納米材料的基本結構高分辨透射電子顯微鏡檢測方法
      GB/Z 26082-2010納米材料直流磁化率(磁矩)測量方法
      GB/T 30543-2014 納米技術 單壁碳納米管的透射電子顯微術表征方法
      GB/T 31229-2014 熱重法測定揮發速率的實驗方法
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